EDX6600鍍層測(cè)厚儀
采用美國(guó)原裝熱電致冷高性能Si- PIN探測(cè)器,分辨力高,探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
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