本儀器針對IC卡在各種試驗標準中的彎曲,扭距的試驗,采用的同步帶傳動,非接觸式光電計數,15工位同時測量,大大提高了儀器的精度和使用壽命.用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡等卡的彎曲和扭曲性能.
HYIC卡動態(tài)扭轉儀
2020-07-23 09:46 872次瀏覽
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